一、无源晶振和有源晶振测试结果对比

1．无源晶振测试

??LR35使用无源晶振常温频偏测试结果为：1.5KHz左右

??但是在高低温速率1的条件下存在丢包或者无法进行透传问题，前期通过更换不同大小的晶振以及调整匹配电容减小频偏，效果不理想，高低温还是丢包大。

2．有源晶振测试

??有源晶振常温频偏测试为：0.375KHz

高温85度频偏测试为：0.75KHz，如下图所示，丢包也在正常范围内；


??在低温-40度丢包也在正常范围内；在这里插入图片描述

二、62.5K带宽下zui大频偏偏差通信测试

??通过更换不同大小晶振以及调试匹配电容，以达到zui大频偏偏差；
??di一组：一个使用-10ppm，另一个使用%2B10ppm，并调节使用%2B10pppLR30模块匹配电容为12pf和10pf；测试频偏结果如下：

??频偏偏差为15.25KHz，测试通信可以进行透传；
??第二组：同样使用?10ppm晶振，调节%2B10ppm晶振匹配电容为2个10pf，测试频偏结果如下：

??两者偏差为：16.125KHz，测试通信无法进行透传；
??第三组：操作步骤同上，使得两者频偏偏差为：15.375KHz，测试通信可以进行透传；
??第四组：操作步骤同上，使得两者频偏偏差为：17.15KHz，测试通信无法进行透传；
??因匹配电容以及晶振原因无法进行详细频偏偏差测试，只能测试大概范围；
??结论如下：在62.5KHz带宽下，可以进行通信的zui大频偏偏差为15K左右；

三、开发总结

??1、通过上面对比测试，有源晶振在高低温测试时，能有效的控制频偏范围，从而数据能够稳定进行传输。
??2、62.5K带宽下能进行透传的频偏偏差范围为：不超过带宽的四分之一。